Słowa kluczowe
organiczna fotowoltaika
cienkie warstwy
elipsometria
Jak cytować
Abstrakt
W artykule przeprowadzona została analiza powierzchni trójskładnikowych cienkich warstw do zastosowania jako warstwa aktywna potrójnych ogniw fotowoltaicznych. Jako metoda badawcza została wybrana elipsometria spektroskopowa. Wykonano mapowanie powierzchni dla cienkich warstw z wybranymi domieszkami. Do danych doświadczalnych został dopasowany model Cody-Lorentza, wyznaczono grubości i chropowatości warstw. Przedstawiony został również rozkład powierzchniowy współczynnika załamania i współczynnika ekstynkcji.
Bibliografia
An, Q.; Zhang, F.; Zhang, J.; Tang, W.; Denga, Zh.; Hu, B.: Versatile ternary organic solar cells: a critical review, Energy Environ. Sci., 9 (2016) 281-322.
Lewińska, G.; Danel, K. S.; Łukaszewska, I.; Lewiński, G.; Niemiec, W.; Sanetra, J.: Ternary organic solar cells doped methoxyphenyl indenopyrazoloquinoline derivatives, J. Mater. Sci. Mater. Electron., (2018) 17809-17817.
Lewińska, G.; Sosna, D.; Kanak, J.; Danel, K. S.; Sanetra, J.; Sahraoui, B.; Marszalek, K. W.: The role of small molecules and quantum dots doping on the morphology of layers for potential applications in ternary solar cells, Opt. Mater. (Amst)., 134 (2022) 113056.
Utwór dostępny jest na licencji Creative Commons Uznanie autorstwa – Użycie niekomercyjne – Bez utworów zależnych 4.0 Międzynarodowe.
Prawa autorskie (c) 2022 Materiały Ceramiczne /Ceramic Materials/